MAIVIS MIV-X on Shimadzun valmistama täysin uusi ultraäänen ja kameran yhteistoimintaan perustuva tarkastuslaite. Laitetta käytetään erilaisten silmällä havaitsemattomien pintojen vikojen kuten naarmujen, kolojen ja halkeamien tunnistamiseen sekä kappaleiden liitosten tai saumakohtien mittaamiseen ilman näytteen hajottamista (engl. non-destructive testing).

Mittauksessa ultraääniaaltoja lähettävä oskillaattori asetetaan kiinni tutkittavaan kappaleeseen samalla kun sitä monitoroidaan laserkuvantavalla kameralla. Poikkeamat ääniaalloissa paljastavat pienimmätkin poikkeamat testikappaleen pinnalla aina noin 1 mm syvyyteen saakka. Kameran mittaama kuva on nähtävissä ohjelmistossa visuaalista tarkastelua varten. Ohjelmiston avulla kohteiden koko voidaan myös helposti mitata. Loitontamalla kameraa testikappaleesta voidaan mitattavan alueen koko kasvattaa niin, että suurimmillaan mitattava alue on jopa 400 x 600 mm.

MIV-X-laite soveltuu erilaisille materiaaleille kuten metalleille, komposiiteille, keraamisille kappaleille ja muoveille sekä teollisuuden että tutkimuksen applikaatioihin.

Valmistaja: Shimadzu

Tutustu MIV-X-laitteeseen valmistajan sivuilla.

• Shimadzu MIV-X -esite
• Shimadzu MIV-X -esittelyvideo (Youtube)